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  经销产品:测试及预烧

 


  Test & Burn-in: Sensata Burn-in Socket
 
是老化(Burn-in)制程的接口配件
连结老化板(Burn-in Board) 及IC
可通过更换插置座(Socket) 应用于不同的IC测试
高质量与服务是您最佳的选择

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  Test: TSE - Integrated Test Interface Solutions (iTIS) Board
 

iTIS是由TSE制造的电子-机械界面解决方案,介于自动测试设备ATE (Automatic Test Equipment)、IC分类处理机及检测站之间。iTIS是芯片测试装置的重要组成部份。主要是连接自动测试设备ATE (Automatic Test Equipment)与机电装置以进行半导体器件测试。iTIS有效地让芯片脚针与测试座达成精准结合。此接口板是非常重要的,如果没有高质量iTIS接口板的支持,百万价值的自动测试设备ATE亦无法有效率地运作。因半导体芯片正快速地发展,接口板便益发重要。

 

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  Test: TSE – Change Kits
 

Change Kit是IC分类处理机不可或缺的零组件,是测试各种不同IC产品的必备装置。Change Kit有多种的应用形式,由于不同IC分类处理机需要不同的应用形式,Change Kit必需根据IC分类处理机及不同封装产品做独特的设计。IC分类处理机的Change Kit是由device change kit 和 customer tray kit组成。Change Kit是配合IC分类处理机、封装方式、IC置座、接口板(iTIS)最佳运作而设计,且根据不同型态的IC分类处理机生产制作各种高性能、低成本的Change Kits。此Change Kits可通过精确测试可取得高质量、准确可靠的测试结果。

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