Test: Zen Voce Change Kits

Test: Zen Voce Load board

测试接口

我们提供适用各种IC封装的测试接口，例如: SOP, QFN, uBGA,等。我们也提供各种不同针数(pin counts)及间距从0.3 – 1.27mm的解决方案。理想的高性能测试应用，ZV产品的高质量、准确及可靠的测试接口，有助于降低测试成本。
我们提供最小、少于100个接触点的芯片尺寸封装(CSP)测试接触器，以及适用超过1000个接触点的最大微处理器之测试接触器，亦有可处理小至间距0.3mm之测试接触器。

Test: Test Contactors – Contact Fingers

ZV測試接觸器是為高性能測試集體電路產品而設計。強調高產量的電子性能與極可靠的高量產測試。ZV測試接觸器的長效使用壽命及易維護特性，是您在測試界面最重要的部分、最有成本效益的選擇。

Test: Test Contactors - Pogo Pins

广泛应用于各种封装，如BGA, PGA, uBGA, LGA, QFN, Strip Test...等。