ENGLISH  |  繁體版  |   简体版
關於我們
里程碑
產品與服務
整合製造服務
標準解決方案
新聞中心
工作機會
聯絡我們

  標準解決方案: 晶圓測試

 
 

博磊為客戶提供全系列解決方案,我們強大的R&D部門總是與客戶共同協力合作於發展新標準產品及製程。

 
Wafer Test: Zen Voce Probe Card PCB
 
    提供Memory device CP測試界面
    提供Logic device CP測試界面
    提供LCD driver CP測試界面
    提供LCD driver FT測試界面
    提供其他 device CP測試界面


[更多詳情請聯絡]
    Top

 

Copyright ©2007. Zen Voce. All Rights Reserved